波面制御装置、波面制御方法、情報取得装置、プログラム、および、記憶媒体
- 专利权人:
- キヤノン株式会社
- 发明人:
- 増村 考洋
- 申请号：
- JP20170113432
- 公开号：
- JP2018008040(A)
- 申请日:
- 2017.06.08
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 【課題】散乱媒質内部の深い位置、或いは広範囲における光学特性の情報の取得に有利な波面制御装置を提供する。【解決手段】波面制御装置は、光が照射された媒質から発生する信号を検出する検出手段１０４と、検出手段の出力に基づいて、光の波面を制御する制御手段１０２、１０５と、を有し、制御手段は、媒質内部の第１の測定位置から発生する信号に基づいて光の第１の波面を形成する第１の処理と、第１の波面を有する光が照射された媒質内部の、第１の測定位置とは異なる第２の測定位置から発生する信号に基づいて光の第２の波面を形成する第２の処理と、を行う。【選択図】図１
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