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CHARGED PARTICLE BEAM TREATMENT DEVICE
专利权人:
SUMITOMO HEAVY IND LTD;住友重機械工業株式会社
发明人:
KAMIGUCHI NAGAAKI,上口 長昭
申请号:
JP2017044262
公开号:
JP2018143659A
申请日:
2017.03.08
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a charged particle beam treatment device which can efficiently irradiate the charged particle beam according to a shape of the subject to be irradiated.SOLUTION: A charged particle beam treatment device 1 includes an enlargement amount adjusting part 102 for adjusting an enlargement amount of a charged particle beam R by an enlargement part 70 according to a shape of a tumor 14. With this configuration, when the tumor 14 becomes smaller as shown in Fig. 6(b), for example, the enlargement amount adjusting part 102 can also decrease the enlargement amount of the charged particle beam R accordingly. Therefore, among the charged particle beam R, the beam shielded by the multi-leaf collimator 24 can be decreased. Also, by decreasing the enlargement amount of the charged particle beam R according to an irradiation field of the multi-leaf collimator 24, an occurrence of a half shadow can also be suppressed.SELECTED DRAWING: Figure 6【課題】被照射体の形状に応じて、効率よく荷電粒子線を照射することができる荷電粒子線治療装置を提供する。【解決手段】荷電粒子線治療装置1は、腫瘍14の形状に合わせて拡大部70による荷電粒子線Rの拡大量を調整する拡大量調整部102を有している。これによって、例えば、図6(b)に示すように、腫瘍14が小さくなる場合は、それに合わせて拡大量調整部102が荷電粒子線Rの拡大量を小さくすることができる。従って、荷電粒子線Rのうち、マルチリーフコリメータ24で遮蔽される線量を低減することができる。また、マルチリーフコリメータ24の照射野に合わせて荷電粒子線Rの拡大量を小さくすることで、半影の発生も抑制できる。【選択図】図6
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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