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笑い測定方法及び装置
专利权人:
木村;一惠
发明人:
木村 洋二
申请号:
JP2008038078
公开号:
JP5022940B2
申请日:
2008.02.19
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To securely detect laugh which is hard to be shown, such as "borne laugh", and to provide a specific unit of quantifying it.SOLUTION: A specific unit and the like for measuring sequential change of a skin surface potential near a xiphisternum of a subject or a part on the seventh rib positioned right away for about 10 cm almost horizontally from the xiphisternum and calculating strong sequential change of respective frequencies of measured potential measuring waves. In addition, the calculated data are mapped so that strong sequential change of the respective frequencies are identifiable by color or the like with one axis as a frequency axis and the other axis as a time axis. By comparing the data with a laugh reference pattern prepared in advance, the specific unit or the like for detecting the subjects laugh are provided.COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT【課題】本発明では、「こらえ笑い」のような表面に出にくい笑いなどをも的確に検出し、定量化する具体的手段を提供することを課題とする。【解決手段】被験者の剣状突起近傍、または、剣状突起より略水平に10cmほど右に位置する第7肋骨上の部位近傍の皮膚表面電位の継時変化を測定し、測定した電位測定波の各周波数の強度の継時変化を算出する具体的手段などを提供する。また、前記算出したデータを、一つの軸を周波数軸、他の軸を時間軸とし、各周波数の強度の継時変化を色などにより識別可能にマッピングする。そして、あらかじめ用意しておいた笑いのリファレンスパターンと比較することで、被験者の笑いを検出する具体的手段などを提供する。【選択図】 図6
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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