This invention is provided with a measurement optical system (30) for beaming measurement light split by a beam splitter (20) onto a subject, and a reference optical system (40) for beaming reference light split by the beam splitter onto a reference mirror (49). A tomographic image of the subject is formed on the basis of interference light generated by superimposing measurement light reflected back by the subject and the reference light reflected by the reference mirror. Optical components such as lenses and mirrors constituting the measurement optical system and the reference optical system correspond with each other, and the wavelength dispersion characteristics of optical components in a corresponding relationship with each other are identical or equivalent.La présente invention concerne un système optique de mesure (30) pour diriger la lumière de mesure divisée par un séparateur de faisceau (20) sur un sujet, et un système optique de référence (40) pour diriger la lumière de référence divisée par le séparateur de faisceau sur un miroir de référence (49). Une image tomographique du sujet est formée sur la base de la lumière dinterférence générée par la superposition de la lumière de mesure renvoyée par le sujet et la lumière de référence réfléchie par le miroir de référence. Des composants optiques tels que des lentilles et des miroirs constituant le système optique de mesure et le système optique de référence correspondent les uns avec les autres, et les caractéristiques de dispersion de longueur donde de composants optiques dans une relation de correspondance les uns avec les autres sont identiques ou équivalentes.ビームスプリッタ20によって分割された測定光を対象物体に入射させる測定光学系30と、同ビームスプリッタによって分割された参照光を参照ミラー49に入射させる参照光学系40を備え、対象物体で反射され戻ってくる測定光と参照ミラーで反射されて戻ってくる参照光を重畳させて生成される干渉光に基づき対象物体の断層画像が形成される。測定光学系と参照光学系を構成する各レンズ、ミラーなどの光学部品はそれぞれ対応しており、対応関係にある光学部品の波長分散特性が同一ないし等価になっている。
