高分辨率和高信噪比的X射线成像系统和成像方法

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专利权人:

中国科学院高能物理研究所

发明人:

朱佩平

申请号：

CN201310115831.9

公开号：

CN104095645A

申请日:

2013.04.03

申请国别(地区):

CN

年份:

2014

代理人:

摘要：

本发明提供一种高分辨率和高信噪比的X射线成像系统和成像方法，所述的成像系统包括：狭缝：用于在垂直于狭缝方向形成发光样品的一维高分辨率图像，利用在平行于狭缝方向扩展的通光面积获得高信噪比；线像素探测器阵列：用于探测光强的空间位置的变化，采集所述发光样品的一维高分辨率图像；旋转装置：用于旋转狭缝和线像素探测器阵列，获得发光样品在各个方向上的一维高分辨率和高信噪比的图像，然后利用CT重建方法重建发光样品的高分辨率二维图像。上述成像系统具有成像分辨率高和信噪比高的优点，适用于多种利用X射线针孔成像和编码孔径成像不能获得发光样品满意图像的场合。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/