高分辨率和高信噪比的双旋CT成像系统和成像方法
- 专利权人:
- 中国科学院高能物理研究所
- 发明人:
- 朱佩平
- 申请号：
- CN201310116386.8
- 公开号：
- CN104095646B
- 申请日:
- 2013.04.03
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供一种高分辨率和高信噪比的双旋CT成像系统和成像方法，所述的成像系统包括：X射线或中子线光源：用于产生照射样品的光束；样品台：用于承载、固定和旋转样品；线像素探测器阵列：用于探测光强的背景和空间位置的变化，采集所述样品在所述光束照射下的投影数据；旋转装置：用于在垂直于样品转轴的方向，围绕样品同步旋转线光源和线像素探测器阵列。上述成像系统具有成像分辨率高、投影数据信号强的特点，满足医学检测、安全检查、工业检测等方面的应用需求。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
