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一种测量双平板PET系统噪声等效计数率的方法
- 专利权人:
- 中国科学院高能物理研究所
- 发明人:
- 柴培,王帅鹏,唐浩辉,卢贞瑞,黄先超,刘双全,高娟,孙校丽,章志明,魏龙
- 申请号：
- CN201810270925.6
- 公开号：
- CN108542409A
- 申请日:
- 2018.03.29
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种测量双平板PET系统噪声等效计数率的方法。本方法为:1)定义坐标空间,确定双平板PET系统轴向方向;2)将选取的模体置于该双平板PET系统中进行数据采集;将采集的符合数据组织为直方图形式,并记录采集持续时间;其中,模体的轴向与系统的轴向一致;3)将直方图中的每一轴向倾斜层数据重组到对应的与轴向方向垂直的单层直方图中;4)根据每层每个投影角度下的偶然符合与散射符合计数,计算每层的偶然符合与散射符合计数;5)根据每层的总符合计数率、偶然符合与散射符合计数率,计算出直方图每层的真实符合计数率;6)根据每层的真实符合计数率得到PET系统的噪声等效计数率。本发明适用于双平板PET系统。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
