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병변 검출 장치, 병변 검출 방법 및 병변 진단 장치
专利权人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO.; LTD.
发明人:
SEONG YEONGKYEONG,성영경,PARK MOON HO,박문호
申请号:
KR1020180017605
公开号:
KR1020180020191A
申请日:
2018.02.13
申请国别(地区):
KR
年份:
2018
代理人:
摘要:
Disclosed is a lesion detecting technique which improves lesion detecting performance and is able to reduce a detecting time. According to one embodiment of the present invention, a lesion detecting apparatus extracts at least one structure area from an image, and detects lesion from the extracted structure area. The lesion detecting apparatus comprises: an extraction portion a setting portion and a detecting portion.COPYRIGHT KIPO 2018병변의 검출 성능을 향상시키고, 검출 시간을 단축할 수 있는 병변을 검출하는 기술이 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 병변 검출 장치는 이미지에서 적어도 하나의 조직 영역을 추출하고, 추출된 조직 영역으로부터 병변을 검출한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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