A method for locating a variation in one or more electrical impedance properties of an object, the method comprising the steps of : (i) obtaining electrical impedance data for the object at different locations； (ii) analysing the obtained electrical impedance data using a transfer function of an assumed electrical model to determine a variation of a plurality of electrical impedance properties for the object with location； and (iii) identifying a location identified by a variation of one or more of the plurality of electrical impedance properties.L'invention concerne un procédé pour localiser une variation dans une ou plusieurs propriétés d'impédance électrique d'un objet, le procédé comprenant les étapes consistant à : (i) obtenir des données d'impédance électrique pour l'objet à différents emplacements； (ii) analyser les données d'impédance électrique obtenues à l'aide d'une fonction de transfert d'un modèle électrique supposé pour déterminer une variation d'une pluralité de propriétés d'impédance électrique pour l'objet selon l'emplacement； et (iii) identifier un emplacement identifié par une variation d'une ou de plusieurs de la pluralité de propriétés d'impédance électrique.
