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探触子及びその製造方法、及びそれを用いた被検体情報取得装置
专利权人:
CANON INC
发明人:
NAKANISHI KOICHIRO,中西 宏一郎
申请号:
JP2013040131
公开号:
JP2013226389A
申请日:
2013.02.28
申请国别(地区):
JP
年份:
2013
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a probe solving a problem of reduction in a reflective performance of an optical reflection layer due to the surface roughness of a support layer of an optical reflection member provided on an element for reflecting irradiation light onto an object or scattered light thereof.SOLUTION: A probe includes an element including cell structures. The probe further includes: an optical reflection layer 108 that is provided closer to the object than the element a support layer 104 supporting the optical reflection layer 108 and a smooth layer 106 that is provided between the support layer and the optical reflection layer, and has a smoother surface than the surface of the support layer 104.COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】被検体への照射光又はその散乱光を反射するために素子上に設けられた光反射部材の支持層の表面粗さによる光反射層の反射性能の低下の課題が解消された探触子を提供する。【解決手段】セル構造を含む素子を有する探触子において、素子よりも被検体側に設けられた光反射層108と、光反射層108を支持する支持層104と、支持層と光反射層との間に設けられ支持層104の表面より平滑な表面を有する平滑層106と、を有する。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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