您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПРЕПАРАТОВ ЗУБОВ ДЛЯ МОРФОЛОГИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ ЭМАЛЕВЫХ ПРИЗМ В АТОМНО-СИЛОВОМ (АСМ) И ИНВЕРТИРОВАННОМ МИКРОСКОПАХ
专利权人:
GOSUDARSTVENNOE OBRAZOVATELNOE UCHREZHDENIE VYSSHEGO PROFESSIONALNOGO OBRAZOVANIJA "OMSKAJA GOSUDARSTVENNAJA MEDITSINSKAJA AKADEMIJA" MINISTERSTVA ZDRAVOOKHRANENIJA I SOTSIALNOGO RAZVITIJA ROSSIJSKOJ
发明人:
SHESTEL IGOR LEONIDOVICH,Шестель Игорь Леонидович (RU),KORSHUNOV ANDREJ SERGEEVICH,Коршунов Андрей Сергеевич (RU),LOSEV ALEKSANDR SERGEEVICH,Лосев Александр Сергеевич (RU),SHESTEL LEONID ALEKSANDROVIC
申请号:
RU2011117971/15
公开号:
RU0002458675C1
申请日:
2011.05.04
申请国别(地区):
RU
年份:
2012
代理人:
摘要:
FIELD: medicine.SUBSTANCE: invention refers to medicine, particularly dentistry and morphology, also may be applied for morphological examinations of the structure of dental enamel. The method for making teeth preparations for morphological examinations of enamel columns in atomic-force (AFM) and inverted microscopes consists in the fact that an enamel slice surface is polished to class 14 purity and etched in 37% orthophosphoric acid for 2 seconds. The relief formed after implementing the method is applicable for effective nano-range probing of the surface required for the purpose of morphometry of the enamel columns.EFFECT: preparations made by the given method allow examining the prism and inter-column pattern along the whole polished surface of the enamel, including in the inverted microscopes at magnification to 1000x without any additional preparation procedures.Изобретение относится к медицине, в частности стоматологии и морфологии, и может применяться для морфологических исследований строения эмали зуба. Способ изготовления препаратов зубов для морфологических исследований эмалевых призм в атомно-силовом (АСМ) и инвертированном микроскопах заключается в том, что поверхность шлифа эмали полируют до 14 класса чистоты и протравливают 37% ортофосфорной кислотой в течение 2 секунд. Возникающий при осуществлении способа рельеф пригоден для эффективного зондирования поверхности в нанодиапазоне, необходимом для морфометрии эмалевых призм. Полученные данным способом препараты позволяют исследовать рисунок призм и межпризменных промежутков по всей полированной поверхности эмали также и в инвертированных микроскопах при увеличении до 1000х без какой-либо дополнительной подготовки.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充