DNA- Detection of Gene Mutation by nanoparticle-DNA corona complex and Au or Si substrate via Kelvin Probe Force Microscopy

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专利权人:

연세대학교 원주산학협력단

发明人:

이상우,이형빈,최범준,김민형,손명구,윤대성

申请号：

KR20150027991

公开号：

KR101731613(B1)

申请日:

2015.02.27

申请国别(地区):

韩国

年份:

2017

代理人:

摘要：

본 발명은 켈빈 푸르브 현미경(Kelvin probe force microscope, KPFM)을 이용한 금 또는 실리콘 기판에 의한 DNA-나노입자 복합체 기반의 고감도 유전자 변이 검지방법에 관한 것으로서, 유전자 변이 검지를 위해 켈빈 프루브 현미경을 이용한 표면 전위 측정의 최적화를 위하여 나노입자와 기판의 종류를 한정한 것으로 탐침 DNA를 금(Au) 나노입자에 고정화 시킨 후 표적 DNA와 혼성화(hybridization)시킨 합성물을 금(Au) 또는 실리콘(Si) 기판 위에 뿌리고 켈빈 프루브 현미경으로 측정된 표면 전위face potential)로 유전자의 변이 여부를 1개의 염기 변이 수준에서 식별하는 방법에 관한 것이다.

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/