マッツ、ダニエルソン,デイビッド、マイケル、ホフマン,MATS DANIELSSON,DAVID MICHAEL HOFFMAN
申请号：
JP2019210761
公开号：
JP2020049227A
申请日:
2019.11.21
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要：
Methods and devices for X-ray tomography of an object while correcting for object and / or internal scatter, and for estimating object and / or internal scatter in a multilevel photon counting X-ray detector. . An x-ray detector comprises at least two layers of detector diodes mounted sideways. For example: 1) The contribution of the object scatter to the count in the top layer 102 of the at least two layers is gradually varied based on the difference in the count between the top and lower layers 103. Estimate assuming a spatial distribution. 2) How many counts from the reabsorption of Compton-scattered photons inside the detector can be determined from the primary X-rays by placing a high-attenuation beamstop at the top, lower layers, or both of the detector elements. Estimate by selectively masking some of the detector elements and measure the counts at the detector elements. [Selection diagram] Fig. 1【課題】オブジェクト散乱および／または内部散乱を補正しながらオブジェクトをＸ線断層撮影する、さらにマルチレベル光子計数Ｘ線検出器においてオブジェクト散乱および／または内部散乱を推定するための方法およびデバイスを提供する。【解決手段】Ｘ線検出器は、横向きに取り付けられた少なくとも２層の検出器ダイオードを備える。例えば、１）前記少なくとも２層のうちの最上位層１０２における計数への前記オブジェクト散乱の寄与を、最上位層と下位層１０３との間における計数の差に基づき、オブジェクト散乱は徐々に変動する空間的分布を有すると仮定して、推定する。２）検出器の内部でコンプトン散乱した光子の再吸収からの計数を、高減衰ビームストップが、検出器要素の最上位部、下位層、またはその両方に配置することによって、一次Ｘ線からいくつかの検出器要素を選択的に遮蔽することによって推定し、検出器要素における計数を測定する。【選択図】図１
