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SCATTER ESTIMATION AND / OR CORRECTION IN X-RAY IMAGING
专利权人:
发明人:
다니엘슨, 매츠,호프만, 데이비드, 미카엘
申请号:
KR1020187001479
公开号:
KR1020449320000B1
申请日:
2015.10.08
申请国别(地区):
KR
年份:
2019
代理人:
摘要:
The present invention provides a method and apparatus for estimating subject scattering and / or internal scattering in a multi-level photon-coefficient x-ray detector 102, 103 as well as an x-ray subject while correcting subject scattering and / or internal scattering. A method and apparatus for tomography imaging are provided. The x-ray detector is, for example, 1) the at least two layers based on the difference (s) of counts between the top and bottom layer (s) under the assumption that the subject scattering has a slowly varying spatial distribution. Estimating the subject scattering contribution to the count at the topmost layer and / or 2) placing a highly attenuated beam stop on top of the detector element at the bottom layer (s) or at both top and bottom layer (s). An edge-designed for estimating the count from reabsorption of compton scattered photons inside the detector based on selectively blinding some detector elements from radiation, and for measuring the counts at these detector elements. It has at least two layers of detector diodes mounted on the geometry.본 발명은 다중-레벨 광자-계수 x-선 검출기(102, 103)에서 피사체 산란 및/또는 내부 산란을 추정하기 위한 방법 및 장치는 물론 피사체 산란 및/또는 내부 산란을 보정하면서 피사체를 x-선 단층촬영 영상화하기 위한 방법 및 장치가 제공된다. 상기 x-선 검출기는, 예를 들면, 1) 상기 피사체 산란이 천천히 변화하는 공간 분포를 갖는다는 가정 하에 상기 최상층 및 하부층(들) 사이의 카운트의 차이(들)에 기초하여 상기 적어도 2개의 층중에서 최상층에서 상기 카운트에 대한 상기 피사체 산란 기여를 추정하고, 및/또는 2) 하부층(들)에서 또는 최상층 및 하부층(들) 모두에서 상기 검출기 요소의 상부에 고도로 감쇠하는 빔 스톱을 위치시킴으로써 1차 방사선으로부터 일부 검출기 요소를 선택적으로 블라인딩하는 것에 기초하여 상기 검출기 내부에서 컴프턴 산란된 광자의 재흡수로부터의 카운트를 추정하는 것, 및 이들 검출기 요소에서 상기 카운트를 측정하는 것을 위하여 설계된 에지-온 지오메트리에 장착된 검출기 다이오드의 적어도 2개의 층을 갖는다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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