In addition to methods and devices for X-ray tomography of objects while correcting object scattering and / or internal scattering, object scattering and / or internal scattering is estimated at multilevel photon counting X-ray detectors (102, 103) Methods and devices are provided. The X-ray detector has at least two layers of detector diodes mounted in a transverse shape, for example: 1) the contribution of said object scattering to the count in the uppermost layer of said at least two layers , Based on the difference in counts between the top layer and the bottom layer, assuming that object scattering has a gradually varying spatial distribution, and / or 2) Compton scattering Counting from the reabsorption of photons that have been taken from the primary x-rays by placing the high attenuation beam stop on both the top, bottom, or top layer of the detector element, or both the top layer and the bottom layer Are designed to estimate based on the selective shielding of the detector elements and to measure the count at those detector elements.オブジェクト散乱および/または内部散乱を補正しながらオブジェクトをX線断層撮影するための方法およびデバイスに加えて、マルチレベル光子計数X線検出器(102、103)においてオブジェクト散乱および/または内部散乱を推定するための方法およびデバイスが、提供される。このX線検出器は、横向き形状に取り付けられた少なくとも2層の検出器ダイオードを有しており、例えば、1)前記少なくとも2層のうちの最上位層における計数への前記オブジェクト散乱の寄与を、最上位層と下位層との間における計数の差に基づき、オブジェクト散乱は徐々に変動する空間的分布を有すると仮定して、推定する、および/または、2)検出器の内部でコンプトン散乱した光子の再吸収からの計数を、高減衰ビームストップが、検出器要素の最上位部、下位層、または最上位層と下位層との両方に配置することによって、一次X線からいくつかの検出器要素を選択的に遮蔽することに基づいて推定して、それらの検出器要素における計数を測定するように、設計されている。
