MEASURING METHOD OF SURFACE OF SPECIMEN AND MEASUREMENT APPARATUS OF SURFACE OF SPECIMEN
- 专利权人:
- 주식회사 엘지화학
- 发明人:
- 최병희,민진혁
- 申请号：
- KR20140130058
- 公开号：
- KR101722815(B1)
- 申请日:
- 2014.09.29
- 申请国别(地区):
- 韩国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 본 출원은 시료의 표면 측정 방법 및 측정 장치에 관한 것이며, 본 출원에서는 시료 표면에 단순한 금속 코팅 작업 만으로도 왜곡 되지 않은 실제 표면 형상을 정밀하게 측정 가능한 측정 방법을 제공할 수 있다.
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
