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散乱線補正方法、画像処理装置および断層撮影装置
专利权人:
SHIMADZU CORP
发明人:
UENO KATSUHIRO,上野 功裕
申请号:
JP2012234710
公开号:
JP2014083234A
申请日:
2012.10.24
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a scattered ray correction method, an image processing unit and a tomographic apparatus capable of removing scattered components with good accuracy while holding down a calculation amount.SOLUTION: A scattered ray correction method includes: a process of estimating a first intensity distribution of the first scattered ray X1 detected by a flat panel display 15 by calculation on supposing that a direct ray X0 which is a radiation ray not subjected to scattering is irradiated to a three-dimensional model W corresponding to a tomographic image, and also supposing that when a first scattered ray X1 is generated by the direct ray X0 first subjected to scattering in the three-dimensional model W, the first scattered ray X1 advances without being further subjected to scattering and a process of removing a scattered component from a projection image from which the tomographic image is originated on the basis of the estimated first intensity distribution.COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】演算量を抑制しつつ、散乱成分を精度良く除去できる散乱線補正方法、画像処理装置および断層撮影装置を提供する。【解決手段】散乱線補正方法は、散乱を受けていない放射線である直接線X0を断層画像に対応した3次元モデルWに対して照射したと仮定し、かつ、直接線X0が3次元モデルW内で初めて散乱を受けることによって1回散乱線X1が発生したときにはその1回散乱線X1はさらに散乱を受けることなく進むと仮定したときに、FPD15で検出される1回散乱線X1の第1強度分布を計算により推定する過程と、推定された前記第1強度分布に基づいて断層画像の基になった投影像から散乱成分を除去する過程と、を備えている。【選択図】図4
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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