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JAUGE LASER POUR ÉTALONNAGE ROBOTISÉ ET SURVEILLANCE
专利权人:
THINK SURGICAL; INC.
发明人:
ELLIOT, Gibson
申请号:
USUS2016/017796
公开号:
WO2016/130946A1
申请日:
2016.02.12
申请国别(地区):
US
年份:
2016
代理人:
摘要:
A contactless, and accurate device and methods of use thereof are provided to calibrate and verify the calibration of a robotic arm and associated attachments. The device uses a laser gauge for calibrating and subsequently verifying the calibration of the robotic arm, digitizer, or robotic tools. An optical transmitter, in communication with an optical receiver is fixed nearly perpendicular to a second optical transmitter in communication with a second optical receiver that form two optical micrometers that are offset a small distance, forming a small gap, d, to create a measuring void having two distinct non-intersecting measurement planes. One measurement plane measures the position and size of an object in a first axis direction and the other measurement plane measures the position and size of an object in a second axis direction. The position and size of an object is measured within the measuring void in both axial directions.L'invention concerne un dispositif précis et sans contact et des procédés d'utilisation de celui-ci pour étalonner et vérifier l'étalonnage d'un bras robotisé et des fixations associées. Le dispositif utilise une jauge laser pour étalonner et, par la suite, vérifier l'étalonnage du bras robotisé, un numériseur ou des outils de robotique. Un émetteur optique, en communication avec un récepteur optique, est fixé presque perpendiculairement à un second émetteur optique en communication avec un second récepteur optique, qui forment deux micromètres optiques qui sont décalés d'une petite distance, formant un petit espace, d, afin de créer un vide de mesure présentant deux plans de mesure distincts ne se coupant pas. Un plan de mesure mesure la position et la taille d'un objet dans une première direction d'axe et l'autre plan de mesure mesure la position et la taille d'un objet dans une seconde direction d'axe. La position et la taille d'un objet sont mesurées dans le vide de mesure dans les deux directions axiales.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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