A system for use in monitoring parameters of an object is described. The system comprising an illumination unit configured for providing coherent illumination of a predetermined wavelength range and for directing said coherent illumination onto an inspection region of the object, and a collection unit comprising a lens arrangement and a detector array and configured for collecting light returning from the inspection region and for generating one or more image data pieces associated with speckle patterns generated at an intermediate plane between the inspection region and said detector array. The detector array is configured as a rolling shutter type detector unit and said collection unit comprises at least one light splitting element configured for splitting collected light to thereby form a plurality of image replications corresponding to said speckle patterns on said detector array.La présente invention concerne un système destiné à être utilisé dans la surveillance des paramètres d'un objet. Le système comprenant une unité d'éclairage configurée pour fournir l'éclairage cohérent d'une plage de longueurs d'ondes prédéterminées et pour orienter ledit éclairage cohérent sur une région d'inspection de l'objet, et une unité de collecte comprenant une configuration de lentille et un réseau de détecteurs et configurée pour recueillir la lumière revenant de la région d'inspection et pour générer un ou plusieurs éléments de données d'image associés aux motifs de chatoiement générés au niveau d'un plan intermédiaire entre la région d'inspection et ledit réseau de détecteurs. Le réseau de détecteurs est configuré comme unité de détecteur type à obturateur déroulant et ladite unité de collecte comprenant au moins un élément de partage de lumière configuré pour partager la lumière recueillie afin de former ainsi une pluralité de réplications d'image correspondant auxdits motifs de chatoiement sur ledit réseau de détecteurs.
