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光断層像撮影装置
专利权人:
NIDEK CO LTD
发明人:
HIGUCHI YUKIHIRO,樋口 幸弘,TAKI SEIJI,瀧 成治
申请号:
JP2011215627
公开号:
JP2013076587A
申请日:
2011.09.29
申请国别(地区):
JP
年份:
2013
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To smoothly acquire a tomographic image of a specimen.SOLUTION: An optical tomographic image photographing apparatus includes: a light source a splitter for splitting light from the light source into a measuring optical path and a reference optical path an optical scanner arranged on the measuring optical path to scan light on a specimen and a detector for detecting light obtained by combining light reflected by the specimen and emitted from the measuring optical path and light from the reference optical path to photograph a tomographic image of the specimen on the basis of an output signal from the detector. The optical tomographic image photographing apparatus further includes a polarizer arranged at least on either the measuring optical path and the reference path and control means for controlling the polarizer on the basis of the output signal from the detector which is obtained by light obtained by combining the light reflected by a dummy arranged in the apparatus and emitted from the measuring optical path and the light from the reference optical path and adjusting a polarization directions of the measuring light and the reference light.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】 被検物の断層画像をスムーズに取得することができる。【解決手段】 光源と、光源からの光を測定光路と参照光路とに分割するためのスプリッタと、測定光路に配置され,被検物上において光を走査するための光スキャナと、被検物で反射された測定光路からの光と,参照光路からの光と,が合成された光を検出するための検出器と、を備え、検出器からの出力信号に基づいて被検物の断層画像を撮像する光断層像撮影装置において、測定光路又は参照光路の少なくともいずれかに配置されたポラライザと、装置内部に配置された模型物で反射された測定光路からの光と参照光路からの光とが合成された光によって得られる検出器からの出力信号に基づいてポラライザを制御し、測定光と参照光の偏光方向を調整する制御手段と、を備える。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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