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APPAREIL D'IMAGERIE EN PHASE À RAYON X
专利权人:
株式会社島津製作所;SHIMADZU CORPORATION
发明人:
MORIMOTO, Naoki,森本直樹,KIMURA, Kenji,木村健士,SHIRAI, Taro,白井太郎,DOKI, Takahiro,土岐貴弘,SANO, Satoshi,佐野哲,HORIBA, Akira,堀場日明
申请号:
JPJP2018/044352
公开号:
WO2020/044581A1
申请日:
2018.12.03
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
In this X-ray phase imaging apparatus (100), a control unit (13) is configured so as to vary the magnitude (Y) of all of a plurality of detection signals so that the degree (D) of artifact (AF) in an extracted image (30) is equal to or less than a prescribed threshold value (Dth) to thereby correct variation in the amount of X-rays, detected by a detector (12), arising from variations in the amount of X-rays outputted by an X-ray tube (11).L'invention concerne un appareil d'imagerie en phase à rayons X (100), comprenant une unité de commande (13) configurée de façon à faire varier l'amplitude (Y) de tous les signaux d'une pluralité de signaux de détection de sorte que le degré (D) d'artéfact (AF) dans une image extraite (30) est égal ou inférieur à une valeur seuil prescrite (Dth) pour ainsi corriger une variation de la quantité de rayons X, détectée par un détecteur (12), résultant de variations de la quantité de rayons X émis par un tube à rayons X (11).このX線位相イメージング装置(100)では、制御部(13)は、複数の検出信号の全ての大きさ(Y)を、抽出画像(30)におけるアーチファクト(AF)の程度(D)が所定の閾値(Dth)以下になるように変化させることにより、X線管(11)から出力されるX線量の変化に起因する検出器(12)で検出されるX線量のバラツキを補正するように構成されている。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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