PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a particle beam irradiation system capable of improving beam utilization efficiency without deteriorating the uniformity of irradiation dose.SOLUTION: The particle beam irradiation system has a synchrotron 13 for accelerating an ion beam 10 and emitting it, and an irradiation device 30 for irradiating a target with the ion beam 10 emitted from the synchrotron 13. The system causes the irradiation device 30 to execute a plurality of times of one-unit irradiation. The system includes: an accumulated beam charge quantity measuring means 15 for measuring the accumulated beam charge quantity (Qmeas) in the synchrotron 13 a target current setting means for setting a target beam current value (Ifb) to be emitted from the synchrotron 13 on the basis of the accumulated beam charge quantity (Qmeas) measured by the accumulated beam charge quantity measuring means 15 and an emitted beam current correction control means for controlling a beam current on the basis of the target value (Ifb) of the emitted beam current obtained by the target current setting means.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】照射線量一様度を低下させずにビーム利用効率を高めることのできる粒子線照射システムを提供する。【解決手段】イオンビーム10を加速して出射するシンクロトロン13と、シンクロトロン13から出射されたイオンビーム10を照射する照射装置30とを有し、照射装置30から一単位の照射を複数回行う粒子線照射システムにおいて、シンクロトロン13内の蓄積ビーム電荷量(Qmeas)を計測する蓄積ビーム電荷量計測手段15と、蓄積ビーム電荷量計測手段で計測した蓄積ビーム電荷量(Qmeas)に基づき、シンクロトロン13から出射する目標ビーム電流値(Ifb)を設定する目標電流設定手段と、前記目標電流設定手段より求められた出射ビーム電流の目標値(Ifb)に基づきビーム電流を制御する出射ビーム電流補正制御手段を備えることを特徴とする粒子線照射システム。【選択図】 図1
