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X-ray phase contrast imaging system and phase contrast image correction method
专利权人:
株式会社島津製作所
发明人:
白井 太郎,木村 健士,土岐 貴弘,佐野 哲,堀場 日明,森本 直樹
申请号:
JP2019547962
公开号:
JPWO2019073760A1
申请日:
2018.09.18
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
The X-ray phase contrast imaging system (100) includes an X-ray source (1), a plurality of gratings, a detector (4), and an image processing unit (6), and the image processing unit (6) includes Based on the first phase contrast image (10a) reconstructed from the first X-ray image (9a) and the second X-ray image (9b), the first X-ray image (9a) and the third X-ray image (9c) are used. It is configured to correct artifacts in the reconstructed second phase contrast image (10b).このX線位相差撮影システム(100)は、X線源(1)と、複数の格子と、検出器(4)と、画像処理部(6)とを備え、画像処理部(6)は、第1X線画像(9a)と第2X線画像(9b)とにより再構成された第1位相コントラスト画像(10a)に基づいて、第1X線画像(9a)と第3X線画像(9c)とにより再構成された第2位相コントラスト画像(10b)のアーチファクトを補正するように構成されている。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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