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APPAREIL D'INSPECTION AUX RAYONS X ET PROCÉDÉ D'INSPECTION AUX RAYONS X
专利权人:
JOB CORPORATION;株式会社ジョブ
发明人:
YAMAKAWA, Tsutomu,山河 勉,YAMAMOTO, Shuichiro,山本 修一郎,YAMAZAKI, Masashi,山崎 雅志,山河 勉,山本 修一郎,山崎 雅志
申请号:
JPJP2015/051911
公开号:
WO2015/111728A1
申请日:
2015.01.23
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
The purpose of the present invention is to detect foreign matter or the like present in a target, at higher resolution and with greater reliability. Frame data for a plurality of fault planes parallel to the scanning direction which have been established in a space between an X-ray tube (31) and an X-ray detection device (22) is created on the basis of detected frame data. Creation takes place in accordance with the spread of the fan shape of the X-ray beam, and difference in position of the plurality of fault planes in the height direction from the detection plane. On the basis of a laminography method, fault images are respectively created from the frame data for the plurality of fault planes. Edge information commensurate to change in pixel values in the fault images is computed for each pixel, and a three-dimensional distribution of the edge information is created. This edge information is searched in a direction that passes through the plurality of fault planes. As a result of the search, pixels that exhibit maximum values of edge information are detected, and only those pixels that, of the plurality of fault images, are those corresponding in location to the detected pixels are synthesized into a single synthesized image.La présente invention vise à détecter des matières étrangères, ou analogues, présentes dans une cible, avec une définition plus élevée et avec une plus grande fiabilité. À cet effet, selon l'invention, des données de trame pour une pluralité de plans de défaut parallèles à la direction de balayage qui ont été établis dans un espace entre un tube à rayons X (31) et un dispositif de détection de rayons X (22) sont créées sur la base de données de trame détectées. Une création est effectuée en fonction de l'étalement de la forme d'éventail du faisceau de rayons X, et de la différence de positions de la pluralité de plans de défaut dans la direction de la hauteur à partir du plan de détection. Sur la base d'un procédé de laminographie, des images
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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