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放射成像方法及其系统
专利权人:
通用电气公司
发明人:
吴明烨,金燕南,布莱恩·爱德华·内特,杰德·道格拉斯·帕克
申请号:
CN201611020809.6
公开号:
CN108078580A
申请日:
2016.11.21
申请国别(地区):
CN
年份:
2018
代理人:
摘要:
本发明公开了一种放射成像方法,包括以下步骤,通过辐射源放射波束到物体上;通过探测器检测穿过所述物体的所述波束,并输出投射数据;获得无物体时的散射强度;获得有物体时的散射透射率;基于无物体时的所述散射强度和有物体时的所述散射透射率,计算有物体时的所述散射强度;基于有物体时的所述散射强度校正所述投射数据;及使用所述经校正的投射数据生成图像。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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