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一种放射成像方法及其系统
专利权人:
通用电气公司
发明人:
吴明烨,金燕南,布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·迪曼,杰德·道格拉斯·派克
申请号:
CN201611001451.2
公开号:
CN108065950A
申请日:
2016.11.14
申请国别(地区):
CN
年份:
2018
代理人:
摘要:
本发明公开了一种放射成像方法,包括以下步骤,通过辐射源发射波束到物体上;通过探测器检测穿过所述物体的所述波束,并输出投影数据;确定所述物体沿着所述波束的位置;基于所述物体的所述位置确定卷积核;根据所述卷积核估算散射分布;基于所述散射分布校正所述的投影数据;及使用所述经校正的投影数据生成图像。所述散射分布能够更准确地估算并生能生成更清晰的图像。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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