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PROCÉDÉ DE MESURE DE POSITIONS
专利权人:
Ying;JI
发明人:
JI, Jiansong
申请号:
CNCN2018/102538
公开号:
WO2020/041941A1
申请日:
2018.08.27
申请国别(地区):
CN
年份:
2020
代理人:
摘要:
A method of measuring a target's position is provided. The method comprises: providing a marker for the target and a tracking assembly. The marker has a convex measuring surface, configured to be part or whole of a sphere, such that the center of the convex measuring surface substantially corresponds to the position of the target. The tracking assembly comprises a measuring piece, which has a tracking tool fixedly attached onto. One type of the measuring piece has a concave measuring surface substantially fit with the convex measuring surface of the marker; Another type of the measuring piece comprises a vision measuring system configured to be able to measure position of a center of the marker with respect to a designated coordinate system of the vision measuring system. The method to obtain the calibration relationship between the designated coordinate system of the vision measuring system and the tracking tool is described also. The method is more convenient and is able to improve the accuracy for measuring a target position.La présente invention concerne un procédé de mesure d'une position cible. Le procédé comprend la fourniture d'un marqueur pour la cible et un ensemble de suivi. Le marqueur présente une surface de mesure convexe, conçue pour être une partie ou la totalité d'une sphère, de sorte que le centre de la surface de mesure convexe correspond sensiblement à la position de la cible. L'ensemble de suivi comprend une pièce de mesure, qui a un outil de suivi solidement fixé sur cette dernière. Un type de la pièce de mesure présente une surface de mesure concave s'ajustant sensiblement à la surface de mesure convexe du marqueur. Un autre type de la pièce de mesure comprend un système de mesure de la vision conçu pour être apte à mesurer la position du centre du marqueur par rapport à un système de coordonnées désignées du système de mesure de la vision. L'invention concerne également un procédé permettant d'obtenir la relation d'étalonnage entre le système
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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