A system is disclosed that allows for determining a position of an instrument in an object space. The position may include a three-dimensional location and at least one degree of freedom of orientation, or any appropriate number of degrees of freedom. The tracked position may be based on imaging the instrument, including imaging an external contour of the instrument. The movement of the instrument can be determined based on a three-dimensional determination of a movement of the instrument contourL'invention concerne un système qui permet de déterminer la position d'un instrument dans un espace d'objet. La position peut comprendre un emplacement tridimensionnel et au moins un degré de liberté d'orientation, ou un nombre approprié quelconque de degrés de liberté. La position suivie peut être obtenue par l'imagerie de l'instrument, notamment l'imagerie d'un contour externe de l'instrument. Le mouvement de l'instrument peut être déterminé sur la base de la détermination tridimensionnelle d'un mouvement du contour d'instrument.
