METHODS OF ANALYZING SAMPLE SURFACES USING A SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPES THEREFOR

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专利权人:

SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD

发明人:

KWON, YOUNGNAM,PARK, SUNGJUN,PAEK, WOONJUNG,KIM, SEONGHEON,AHN, JAEMIN,YUN, DONGJIN

申请号：

EP20150198623

公开号：

EP3032267(A3)

申请日:

2015.12.09

申请国别(地区):

欧洲专利局

年份:

2016

代理人:

摘要：

Provided are methods for analyzing a surface of a sample using a scanning probe microscope including a cell-attached probe and scanning probe microscopes therefor.

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/