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荷電粒子線量シミュレーション装置、荷電粒子線照射装置、荷電粒子線量のシミュレーション方法、及び荷電粒子線照射方法
专利权人:
独立行政法人国立がん研究センター
发明人:
西尾 禎治,江頭 祐亮,山田 学
申请号:
JP2010088532
公开号:
JP5590663B2
申请日:
2010.04.07
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a simulation device and simulation method for charged particle beam amount, which allow early determination of a dose distribution of charged particle beam with a reduced load on arithmetic processing while suppressing the deterioration of accuracy.SOLUTION: The simulation device 3 includes: an input unit 31 which receives input of simulation data including material information of an irradiation object X and irradiation information of proton beam B and an arithmetic unit 33 which determines a dose distribution of the proton beam B within the irradiation object X based on the simulation data received by the input unit 31 and a dose distribution kernel. The arithmetic unit 33 forms a Surface Map from the proton beam B assumed to reach the body surface, breaks down the Surface Map to break down the proton beam B into a plurality of beamlets Ba, and determines the dose distribution of the proton beam B within the irradiation body X based on the simulation data received by the input unit 31 and the plurality of beamlets Ba.COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT【課題】精度低下を抑えながら、演算処理の負担を軽減して荷電粒子線の線量分布を早期に割り出すことが可能となる荷電粒子線量シミュレーション装置、及び荷電粒子線量のシミュレーション方法を提供することを目的とする。【解決手段】被照射体Xの物質情報及び陽子線Bの照射情報を含むシミュレーションデータの入力を受け付ける入力部31と、入力部31で受け付けられたシミュレーションデータ及び線量分布カーネルに基づいて、被照射体X内の陽子線Bの線量分布を割り出す演算部33と、を備え、演算部33は、体表面に到達した仮定される陽子線BからSurface Mapを作成すると共に、Surface Mapを細分化して陽子線Bを複数のビームレットBaに細分化し、入力部31で受け付けられたシミュレーションデータと複数のビームレットBaとに基づいて被照射体X内での陽子線Bの線量分布を割り出すシミュレーション装置3とした。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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