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TABTape Automated Bonding Resistance Inspection System
专利权人:
DISSEM CO., LTD.
发明人:
LEE, YOO HYUNG
申请号:
KR20170001930
公开号:
KR101824635(B1)
申请日:
2017.01.05
申请国别(地区):
韩国
年份:
2018
代理人:
摘要:
본 발명은 TAB저항검사시스템에 관한 것이다. TAB저항검사시스템에는 검사점을 갖는 기판를 검사하는 TAB저항검사시스템에 있어서, 상기 검사점의 저항을 측정하는 계측장치와, 상기 검사점과 상기 계측장치를 연결하는 프로브를 포함하고, 상기 프로브에는, 상기 검사점과 상기 계측장치를 전기적으로 연결하는 검사핀과, 상기 검사점과 상기 검사핀의 정렬을 위한 정렬홀이 포함된다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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