An X-ray imaging method comprising: providing a set of at least one training material, the set comprising different materials and / or different thicknesses of the materials or of each material； Obtaining an observed X-ray image of at least one training material using a pixelated detector； building in the simulator a database of simulated scattering kernels for variable parameters within the simulator for each of the at least one training material； Generating a transfer function between simulator parameters and parameters of the observed image independent of sample type and thickness； generating a scatter estimate of the entire image； Predicting direct radiation； scatter estimation and direct radiation Applying a transfer function to the observed intensity values, or applying an inverse transfer function to the observed intensity values； and performing a calculation of Z−SD ≦ threshold to provide scatter free data and / or a scatter free image. Performing the steps. [Selection diagram] FIG.Ｘ線画像化方法であって：１組の少なくとも１つのトレーニング材料を提供するステップであって、その組は、異なる材料、および／またはその材料の、もしくは各材料の異なる厚さを備えるステップと；画素化検出器を用いて少なくとも１つのトレーニング材料の観察Ｘ線画像を得るステップと；少なくとも１つのトレーニング材料ごとに、シミュレータ内部の可変パラメータに関してシミュレートされた散乱カーネルのデータベースをシミュレータ内に構築するステップと；シミュレータのパラメータと、サンプルの種類および厚さとは無関係な観察画像のパラメータとの間の、伝達関数を生成するステップと；画像全体の散乱推定を生成するステップと；散乱カーネルごとに直接放射線を予測するステップと；散乱推定および直接放射線に伝達関数を適用する、または観察強度値に逆伝達関数を適用するステップと；Ｚ－Ｓ－Ｄ≦しきい値の計算を遂行して、散乱のないデータおよび／または散乱のない画像を提供するステップとを備える。【選択図】図２
