A measurement apparatus comprising a base for receiving an object to be measured is disclosed. The base is provided with a pattern that is visually different in different locations. An abutment element is moveable relative to the object and the pattern, the moveable abutment element being configured to partially cover the pattern from an imaging apparatus and provide at least one datum point for the imaging apparatus for determining measurement data for the object based on the at least one datum point and a part of the pattern remaining visible for the imaging apparatus. Methods, imaging apparatuses and a system for generating and processing measurement data are also disclosed.Linvention a trait à un appareil de mesure comprenant une base destinée à recevoir un objet à mesurer. La base est pourvue dun motif qui est visuellement différent à différents endroits. Un élément de butée est mobile par rapport à lobjet et au motif, et conçu pour couvrir partiellement le motif du point de vue dun appareil dimagerie, et pour fournir au moins un point de repère permettant à lappareil dimagerie de déterminer des données de mesure pour lobjet sur la base dudit point de repère et dune partie du motif restant visible pour lappareil dimagerie. Linvention concerne également des procédés, des appareils dimagerie et un système de génération et de traitement de données de mesure.
