Das Verfahren basiert auf der Detektion und Zuordnung eines von einer keratometrischen Messanordnung erzeugten Musters in Bezug zu einem Referenzmuster.Erfindungsgemäß werden bei der reflektiven Messung mehrere Reflexbilder aufgenommen, in allen Reflexbildern alle Elemente detektiert und deren Koordinaten bestimmt, aus allen Reflexbildern ein Referenzbild ausgewählt, globale Verschiebungen der Muster bezüglich des Referenzbildes ermittelt und kompensiert, für das Referenzbild eine Datenstruktur erzeugt und gespeichert, die die Koordinaten jedes detektierten Elementes und einen Zähler mit dem Zählerstand 1 enthält. Im Weiteren wird versucht die detektierten Elemente eines jeden Reflexbildes den Koordinaten des Referenzbildes zuzuordnen, wobei für zugeordnete Elemente in der Datenstruktur des Referenzbildes der Zähler für das jeweilige Element erhöht wird. Für die Zuordnung zum Referenzmuster wird die aus allen Reflexbildern erzeugte Datenstruktur verwendet.The method is based on the detection and assignment of a pattern generated by a keratometric measuring arrangement in relation to a reference pattern Shifts in the patterns with respect to the reference image are determined and compensated for, a data structure is generated and stored for the reference image which contains the coordinates of each detected element and a counter with the counter reading 1. In addition, an attempt is made to assign the detected elements of each reflection image to the coordinates of the reference image, the counter for the respective element being increased for assigned elements in the data structure of the reference image. The data structure generated from all reflection images is used for the assignment to the reference pattern.
