DISPOSITIF D'ÉTALONNAGE DE DIRECTION DE LIGNE DE VISÉE, PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE DE DIRECTION DE LIGNE DE VISÉE ET PROGRAMME D'ÉTALONNAGE DE DIRECTION DE LIGNE DE VISÉE
The invention comprises: a calibration information acquisition unit (101) that acquires, for at least one observation target for calibration, three-dimensional coordinates indicating the position of each observation target for calibration； a sample acquisition unit (102) that acquires a plurality of samples indicating the line-of-sight direction of a user； a calibration model generating unit (103) that, on the basis of the three-dimensional coordinates indicating the position of each observation target for calibration and the samples indicating the line-of-sight direction of the user in a state where the user is observing each observation target for calibration, generates a plurality of calibration models indicating three-dimensional coordinates to be candidates for the position of the user； and a calibration parameter calculation unit (104) that, on the basis of the generated calibration models, calculates a calibration parameter.L'invention comprend : une unité d'acquisition d'informations d'étalonnage (101) qui acquiert, pour au moins une cible d'observation pour un étalonnage, des coordonnées tridimensionnelles indiquant la position de chaque cible d'observation pour un étalonnage ； une unité d'acquisition d'échantillons (102) qui acquiert une pluralité d'échantillons indiquant la direction de ligne de visée d'un utilisateur ； une unité de génération de modèle d'étalonnage (103) qui, sur la base des coordonnées tridimensionnelles indiquant la position de chaque cible d'observation pour un étalonnage et des échantillons indiquant la direction de ligne de visée de l'utilisateur dans un état dans lequel l'utilisateur observe chaque cible d'observation pour un étalonnage, génère une pluralité de modèles d'étalonnage indiquant des coordonnées tridimensionnelles destinées à être candidates pour la position de l'utilisateur ； et une unité de calcul de paramètre d'étalonnage (104) qui, sur la base des modèles d'étalonnage générés, calcule un paramètre d'étalonnage.少なくとも
