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用于航天器的元器件的测试方法
- 专利权人:
- 北京空间技术研制试验中心
- 发明人:
- 雷剑宇,李光日,霍佳婧,王冉,于磊,张振华
- 申请号：
- CN201711073003.8
- 公开号：
- CN107907761A
- 申请日:
- 2017.11.03
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 陆鑫`延慧
- 摘要：
- 本发明涉及一种航天器元器件的测试方法，包括以下步骤：a.将航天器元器件置于密封容器中，并且将所述航天器元器件通过测试电缆与所述密封容器外的测试设备电连接；b.向所述密封容器充压至大于所述航天器元器件的内部压力，并持续所述密封容器内的压力环境；c.将所述密封容器降压，然后再次充压至大于所述航天器元器件的内部压力，并持续所述密封容器内的压力环境；d.持续循环步骤b～c，并且利用所述测试设备对所述航天器元器件全程监测，取得监测结果后，完成测试。根据本发明的航天器元器件的测试方法能够有效模拟测试航天器元器件的外部压力高于其内部压力时的工作状态，测试结果准确、可信并且有效。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
