A system, process and software arrangement are provided to determine at least one position of at least one portion of a sample. In particular, information associated with the portion of the sample is obtained. Such portion may be associated with an interference signal that includes a first electro-magnetic radiation received from the sample and a second electro-magnetic radiation received from a reference. In addition, depth information and/or lateral information of the portion of the sample, may be obtained. At least one weight function can be applied to the depth information and/or the lateral information so as to generate resulting information. Further, a surface position, a lateral position and/or a depth position of the portion of the sample may be ascertained based on the resulting information.Linvention concerne un système, un procédé et un logiciel de détermination dau moins une position dans au moins une fraction déchantillon. Les système, procédé et logiciel selon linvention permettent en particulier, dobtenir des informations associées à la fraction déchantillon. Cette portion peut être associée à un signal dinterférence constitué par une première radiation électromagnétique reçue de léchantillon et une seconde radiation électromagnétique reçue dune référence. De plus, il est possible dobtenir des informations de profondeur et des informations latérales de la fraction déchantillon. Au moins une fonction de pondération peut être appliquée aux informations de profondeur et/ou aux informations latérales pour générer des informations résultantes. Dautre part, une position de surface, une position latérale et/ou une position de profondeur de la fraction déchantillon peuvent être déterminées à partir des informations résultantes.
