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定性分析のための質量分析データ処理装置
专利权人:
株式会社島津製作所
发明人:
前田 見悟,川瀬 智裕,山村 雄太郎,星 大海
申请号:
JP20170541207
公开号:
JPWO2017051468(A1)
申请日:
2015.09.25
申请国别(地区):
日本
年份:
2018
代理人:
摘要:
試料中の未知の目的物質について得られたマススペクトルと特定物質の既知のマススペクトルとのピークパターンの類似度を算出し(S4)、類似度が80〜60%の範囲である(S6でNo)場合には、特定物質を特徴付ける二つのm/zにおける信号強度の比を計算し、それを基準値と比較する(S7、S8)。強度比が基準値を超えていれば目的物質は特定物質である可能性が高いので、類似度が80%以上であった場合と同様に、試料中に特定物質が含まれていると判定する(S10)。また、こうした判定に先立ち、試料が測定位置に置かれる前の時点から測定を行うことで収集したデータに基づいて作成した全イオン電流信号のグラフから、試料が確実に質量分析に供されたか否かを判定し(S2、S3)、該グラフに有意なピークがない場合には試料導入エ
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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