一种采用双波长结构光测量物体轮廓的方法
- 专利权人:
- 清华紫光股份有限公司
- 发明人:
- 辛建波,高宏
- 申请号：
- CN200510132886.6
- 公开号：
- CN1330928C
- 申请日:
- 2005.12.29
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2007
- 代理人:
- 罗文群
- 摘要：
- 本发明涉及一种采用双波长结构光测量物体轮廓的方法及装置，属于光学测量技术领域。首先投影仪产生一束经正弦调制后的白光，将白光照射到待测物体上，光场被待测物体调制，照相机拍摄得到图像，使用自相关法计算上述图像上各像素点的相位差，以另一波长进行正弦调制，重复上述过程得到相位差，对两次正弦调制的波长进行组合，得到组合波长和组合相位差，然后计算各像素点的深度，根据设定的物体表面的连续性约束条件，对各像素点的深度进行解包络，得到物体实际三维形状。本发明的装置包括：投影仪、照相机和计算机。本发明的方法和装置，算法稳定性好，可以测量表面形状更加复杂的物体，测量精度高于已有技术。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
