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放射線画像処理装置及び方法
专利权人:
富士フイルム株式会社
发明人:
多田 拓司
申请号:
JP2011022482
公开号:
JP5610480B2
申请日:
2011.02.04
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To correct defective pixels with high precision and to shorten a time required for correction processing.SOLUTION: In the radiographic system to acquire the phase contrast image of a subject H from a plurality of pieces of image data acquired by photographing while changing relative positions of first absorption type grating 21 and a second absorption type grating 22, an image processing section 14 includes: a phase differential image generation section 32 to generate a phase differential image on the basis of the plurality of pieces of image data acquired by an FPD 20 a correction processing section 33 to acquire positional information of defective pixels from a defect map stored in a defect map storage section 31 and substitute the phase differential value of the phase differential image corresponding to each defective pixel with a correction value calculated on the basis of the phase differential value of a pixel neighboring the defective pixel and a phase contrast image generation section 34 to generate a phase contrast image from the phase differential image correction-processed by the correction processing section 33.COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT【課題】精度のよい欠陥画素補正を可能とするとともに、補正処理に要する時間を短縮することを可能とする。【解決手段】第1の吸収型格子21と第2の吸収型格子22との相対位置を変更して撮影を行うことにより得られる複数の画像データから被検体Hの位相コントラスト画像を取得するX線撮影システムにおいて、画像処理部14は、FPD20で取得された複数の画像データに基づき、位相微分像を生成する位相微分像生成部32と、欠陥マップ記憶部31に記憶された欠陥マップから欠陥画素の位置情報を取得し、各欠陥画素に対応する位相微分像の位相微分値を、欠陥画素に隣接する画素の位相微分値に基づいて算出した補正値で置換する補正処理部33と、補正処理部33により補正処理がなされた位相微分像から位相コントラスト画像を生成する位相コントラスト画像生成部34とを備える。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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