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Neural probe array of high performance and for minimized damage of neuron
专利权人:
KOREA INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
发明人:
KIM, JIN SEOK,김진석,PARK, JONG WOONG,박종웅,JEONG, JIN WOO,정진우,YOUN, IN CHAN,윤인찬,KIM, OCK CHUL,김옥철,OH, SANG ROK,오상록,KIM, KEE HOON,김기훈,CHU, JUN UK,추준욱
申请号:
KR1020150105248
公开号:
KR1017008860000B1
申请日:
2015.07.24
申请国别(地区):
KR
年份:
2017
代理人:
摘要:
A neural probe structure includes a connecting body of a flexible material and a plurality of probes coupled to the connecting body and having an electrode for detecting a nerve signal. The plurality of probes is spaced apart along the length direction of the connecting body. The connecting body is wound around the outer peripheral surface of a nerve. The plurality of probes is inserted into the nerve by piercing the outer peripheral surface of the nerve. So, neurological damage can be minimized.신경 탐침 구조체는, 유연한 재질의 연결체와, 상기 연결체에 결합되며 신경 신호를 검출하는 전극이 형성된 복수의 탐침을 포함하고, 상기 복수의 탐침은 상기 연결체의 길이 방향을 따라 간격을 가지고 배치되고, 상기 연결체는 상기 신경의 외주면 둘레를 감고, 상기 복수의 탐침이 상기 신경의 외주면을 찔러 신경 내부로 삽입된다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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