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DISPOSITIF DE MESURE, PROCÉDÉ DE MESURE, ET APPAREIL ÉLECTRONIQUE ÉQUIPÉ DUDIT DISPOSITIF DE MESURE
专利权人:
京セラ株式会社;KYOCERA CORPORATION
发明人:
TOUGASAKI, Tomoyuki,東ヶ▲崎▼ 智之,東ヶ▲崎▼ 智之
申请号:
JPJP2015/003233
公开号:
WO2015/198611A1
申请日:
2015.06.26
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
Provided are: a measurement device and measurement method with which it is possible to improve the measurement accuracy of biometric information; and an electronic apparatus equipped with this measurement device. A measurement device 10 is equipped with a measurement unit 12 that measures biometric information, and a control unit 13 which performs control in order to stop the measurement by the measurement unit 12 when a predetermined process starts while measurement is being performed by the measurement unit 12.L'invention concerne : un dispositif de mesure et un procédé de mesure permettant d'améliorer la précision de mesure d'informations biométriques ; et un appareil électronique équipé de ce dispositif de mesure. Un dispositif de mesure 10 est équipé d'une unité de mesure 12 qui mesure des informations biométriques, et d'une unité de commande 13 qui effectue une commande afin d'arrêter la mesure par l'unité de mesure 12 lorsqu'un procédé prédéfini commence alors qu'une mesure est effectuée par l'unité de mesure 12.生体情報の測定精度を向上可能な測定装置、測定方法、および測定装置を備える電子機器を提供する。 測定装置10は、生体情報を測定する測定部12と、測定部12の測定中に所定の処理を開始するとき、測定部12の測定を停止するように制御する制御部13と、を備える。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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