Method and apparatus for estimating an arrival time (PAT) value of a subject from a sequence of electrical impedance tomography (EIT) images (10). The method comprises: providing an EIT imaging device adapted to record impedance signal distribution within a measurement region (2) of the subject； measuring a sequence of temporally discrete EIT images (10) during a predetermined measuring time period in the measurement region using the EIT imaging device, each EIT image comprising one or a plurality of EIT pixel subsets, each of said one or a plurality of EIT pixel subset representing an impedance value； generating one or a plurality of time series (11), each of said one or a plurality of time series (11) representing a variation of the impedance value of the sequence of EIT images (10)； and estimating the PAT value from each of said one or a plurality of time series (11). The method allows for estimating the PAT value in an automatic and unsupervised fashion.L'invention porte sur un procédé et un appareil pour l'estimation d'une valeur de temps d'arrivée (PAT) d'un sujet à partir d'une séquence d'images de tomographie par impédance électrique (EIT) (10). Le procédé comprend : la fourniture d'un dispositif d'imagerie EIT apte à enregistrer une distribution de signaux d'impédance dans une région de mesure (2) du sujet； la mesure d'une séquence d'images EIT décrites temporellement (10) durant une période de temps de mesure prédéterminée dans la région de mesure à l'aide du dispositif d'imagerie EIT, chaque image EIT comprenant un ou une pluralité de sous-ensembles de pixels EIT, chacun dudit ou de ladite pluralité de sous-ensembles de pixels EIT représentant une valeur d'impédance； la génération d'une ou d'une pluralité de séries temporelles (11), chacune de ladite série temporelle ou de ladite pluralité de séries temporelles (11) représentant une variation de la valeur d'impédance de la séquence d'images EIT (10)； et l'estimation de la valeur PAT à partir de chacune de
