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X線撮像装置およびX線撮像方法
专利权人:
キヤノン株式会社
发明人:
向出 大平,高田 一広,福田 一徳,渡邉 壮俊
申请号:
JP2010006771
公开号:
JP5111528B2
申请日:
2010.01.15
申请国别(地区):
JP
年份:
2013
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray imaging apparatus and a method of X-ray imaging, with which the apparatus can be reduced in size and with which a differential phase image or a phase image with consideration of an X-ray absorption effect of a detection object can be obtained.SOLUTION: A displacement of X-rays that have been split by a splitting element and have passed through the detection object is measured. The displacement can be measured by using a first attenuation element having a transmission amount that continuously changes in accordance with the incident position of X-rays. At this time, an X-ray transmittance that is calculated by using a second attenuation element having a transmission amount that does not change in accordance with the incident position of X-rays is used.COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT【課題】 装置を小型化し、かつ、被検知物によるX線の吸収効果を考慮した微分位相像または位相像を得ることが可能なX線撮像装置およびX線撮像方法を提供することを目的とする。【解決手段】 分割素子により分割されたX線を被検知物に透過させた際に生じるX線の位置変化量を測定する。この位置変化量は入射位置に応じて透過量が連続的に変化する第1の減衰素子によって計測することができる。この際に、X線の入射位置に応じて透過量が変化しない第2の減衰素子を用いて算出した透過率を利用する。【選択図】 図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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