The intensity of an X-ray signal received at a detector after passing through an object of interest is a function of the attenuation, phase change, and scattering caused by the object of interest. In traditional X-ray systems, it was not possible to resolve these components. This application discusses an X-ray measurement technique which is insensitive to the variations in the interferometric pattern caused by phase differences in portions of the object of interest. Thus, received intensity measurements are caused only by attenuation and scattering components. By making two independent measurements of the object of interest using such a phase-invariant imager, the attenuation and scattering components may be separated, providing valuable extra information about the imaged object of interest arising from so-called "dark field" effects.Lintensité dun signal de rayon X reçu au niveau dun détecteur après avoir traversé un objet dintérêt est fonction de latténuation, du changement de phase, et de la dispersion provoqués par lobjet dintérêt. Dans des systèmes à rayons X traditionnels, il na pas été possible de résoudre ces composantes. La présente invention concerne une technique de mesure par rayons X qui est insensible aux variations dans le motif interférométrique provoqué par des différences de phase dans des parties de lobjet dintérêt. Ainsi, des mesures dintensité reçues sont générées uniquement par des composantes datténuation et de diffusion. En réalisant deux mesures indépendantes de lobjet dintérêt à laide dun tel dispositif dimagerie à invariance de phase, les composantes datténuation et de diffusion peuvent être séparées, ce qui donne des informations supplémentaires de valeur concernant lobjet dintérêt soumis à imagerie résultant deffets dits de "champ sombre".
