The present invention relates to handling misalignment in differential phase contrast imaging. In order to provide an improved handling of misalignment in X-ray imaging systems for differential phase contrast imaging, an X-ray imaging system (10) for differential phase contrast imaging is provided that comprises a differential phase contrast setup (12) with an X-ray source (14), an X-ray detector (16), and a grating arrangement comprising a source grating (18), a phase grating (20) and an analyzer grating (22). The source grating is arranged between the X-ray source and the phase grating, and the analyzer grating is arranged between the phase grating and the detector. Further, the system comprises a processing unit (24), and a measurement system (26) for determining a misalignment of at least one of the gratings. The X-ray source and the source grating are provided as a rigid X-ray source unit (28). The phase grating, the analyzer grating and the detector are provided as a rigid X-ray detection unit (30). The measurement system is an optical measurement system configured to determine a misalignment between the differential phase contrast setup consisting of the X-ray source unit and the X-ray detection unit. Further, the processing unit is configured to provide a correction signal (34) based on the determined misalignment.La présente invention concerne la gestion des défauts d'alignement en imagerie par contraste de phase différentiel. Afin d'assurer une gestion améliorée des défauts d'alignement dans des systèmes d'imagerie à rayons X destinés à l'imagerie par contraste de phase différentiel, un système (10) d'imagerie à rayons X pour imagerie par contraste de phase différentiel est décrit, qui comporte un dispositif (12) à contraste de phase différentiel comprenant une source (14) de rayons X, un détecteur (16) de rayons X et un agencement de réseaux comportant un réseau (18) de source, un réseau (20) de phase et un réseau analyseur (22). Le réseau de source est d
