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ROTATIONAL X-RAY DEVICE FOR PHASE CONTRAST IMAGING COMPRISING A RING-SHAPED GRATING
专利权人:
发明人:
申请号:
EP09723451.2
公开号:
EP2257793B1
申请日:
2009.03.13
申请国别(地区):
EP
年份:
2015
代理人:
摘要:
The invention relates to a rotational X-ray device (100), for example a CT scanner, for generating phase contrast images of an object (1). In a particular embodiment of the device (100), a plurality of X-ray sources (11), an X-ray detector (30), and an analyzer grating (G2) are attached to a rotatable gantry (20), while a ring-shaped phase grating (G1) is stationary. The X-ray sources are disposed such that X-rays first pass an object under study before traversing the phase grating (G1) and subsequently the analyzer grating (G2). This is achieved by either shifting the X-ray sources axially with respect to the ring-shaped phase grating (G1) or by disposing the X-ray sources in the interior of the ring. Moreover, the phase grating (G1) and the analyzer (G2) shall have spatially varying relative phase (and/or periodicity), for example realized by line grids that are tilted with respect to each other. During the rotation of the gantry (20), the synchronized activation of X-ray sources (11) allows to generate projection images of an object (1) from the same viewing angle with different relative positions (and therefore phases) between the phase grating (G1) and the analyzer (G2).Linvention porte sur un dispositif à rayons X rotatif (100), par exemple un tomodensitomètre (CT), pour générer des images à contraste de phase dun objet (1). Dans un mode de réalisation particulier du dispositif (100), une pluralité de sources de rayons X (11), un détecteur de rayons X (30) et un réseau danalyseur (G2) sont fixés à un support mobile rotatif (20), tandis quun réseau de phase en forme danneau (G1) est stationnaire. Les sources de rayons X sont disposées de telle sorte que les rayons X passent tout dabord un objet détude avant de traverser le réseau de phase (G1) et ultérieurement le réseau danalyseur (G2). Ceci est obtenu soit par le décalage des sources de rayons X axialement par rapport au réseau de phase en forme danneau (G1), soit par disposition des sources de rayons X dans
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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