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塗布材料の光学特性の測定システム、測定方法、測定装置、および積層構造体
专利权人:
FUJIFILM CORP
发明人:
IKEDA ERIKO,池田 恵梨子,TANI TAKEHARU,谷 武晴
申请号:
JP2014069560
公开号:
JP2015188665A
申请日:
2014.03.28
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a system, method, and apparatus for measuring optical characteristics of coating material capable of measuring a coating material such as a cosmetic which is on a base layer such as a skin and the optical characteristics of the base layer in a separated manner, and also to provide a laminate structure.SOLUTION: The measuring system comprises: a transparent substrate one face of which is provided with an adhesive layer for forming a coating layer coated with a coating material and the other face of which is closely in contact with base layer a light irradiation unit for projecting irradiation light toward a first laminate structure formed of three layers, i.e., the coating layer, the transparent substrate, and the base layer an optical system for projecting light with the irradiation light reduced to a part of the first laminate structure and an imaging unit which is arranged inclinedly with respect to the incident direction in which the light enters, and which captures, from the direction inclined with respect to the incident direction, an image of a distribution of the light reflected off the coating layer of the first laminate structure and a distribution of the light passing through the coating layer and the transparent substrate and reflected off the base layer of the first laminate layer, in a separated basis.COPYRIGHT: (C)2016,JPO&INPIT【課題】皮膚等の基層上の化粧品等の塗布材料と基層との光学特性を分離して測定することができる塗布材料の光学特性の測定システム、測定方法、測定装置、および積層構造体を提供する。【解決手段】一方の面に塗布材料が塗布された塗布層を形成するための粘着層を備え、他方の面に基層が密着される透明基板と、塗布層、透明基板、及び基層の3層構造の第1積層構造体に向けて照射光を出射する光照射部と、照射光が絞られた光を第1積層構造体の一部に照射するための光学系と、入射される入射方向に対して傾斜させて配置され、入射方向に対して傾斜した方向から、第1積層構造体の塗布層で反射した光の分布と、塗布層及び透明基板を透過し第1積層構造体の基層で反射した光の分布とを分離して第1画像として撮影する撮影部と、を有することにより、上記課題を解決する。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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