A remote polarization measuring device (100) for a sample (S) is provided. The apparatus includes a light source (10) for an incident light wave of a first wavelength (λE), a single mode optical fiber (30) for propagation of the incident light wave, a polarization state generator (PSG) on the proximal side of the optical fiber, and A polarization state analyzer (PSA) and a reflector (40) on the distal side are provided. For each probe state of an incident wave generated by the PSG, the PSA propagates through the optical fiber (30), reflects off the distal side of the optical fiber, and propagates backward through the optical fiber (30). The polarization state of the light wave obtained later can be analyzed. The processing means (70) determines a Mueller matrix (MF) for the optical fiber from the first polarization measurement of the optical fiber, and determines a Mueller matrix (MF) for the assembly from the second polarization measurement of the assembly including the optical fiber and the sample. MT) can be determined. A Mueller matrix (MO) for the sample is determined from the Mueller matrix for the optical fiber and the matrix for the assembly. [Selection] Figure 3【解決手段】試料（Ｓ）の遠隔偏光測定装置（１００）に関する。本装置は第１波長（λＥ）の入射光波の光源（１０）と、入射光波が伝搬するためのシングルモード光ファイバ（３０）と、光ファイバの近位側に偏光状態生成器（ＰＳＧ）および偏光状態解析器（ＰＳＡ）と、遠位側に反射板（４０）とを備える。ＰＳＡは、ＰＳＧが生成した入射波の各プローブ状態に関し、入射波が光ファイバ（３０）中を伝搬し、光ファイバの遠位側で反射し、光ファイバ（３０）中を逆向きに伝搬した後に得られる光波の偏光状態を解析することができる。処理手段（７０）は、光ファイバの第１偏光測定から、光ファイバに関するミュラー行列（ＭＦ）を決定し、光ファイバと試料とを含む集合体の第２偏光測定から、集合体に関するミュラー行列（ＭＴ）を決定することができる。試料に関するミュラー行列（ＭＯ）が、光ファイバに関するミュラー行列と、集合体に関する行列とから決定される。【選択図】図３
