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スリットランプ顕微鏡及び眼科システム
专利权人:
TOPCON CORPORATION
发明人:
SHIMIZU Hitoshi,OOMORI Kazuhiro,FUKUMA Yasufumi
申请号:
JP2019023202
公开号:
WO2019240149A1
申请日:
2019.06.12
申请国别(地区):
JP
年份:
2019
代理人:
摘要:
The slit lamp microscope according to a representative embodiment of the present invention includes an illumination system, an imaging system, a movement mechanism, and a three-dimensional-image construction unit. The illumination system radiates slit light to the anterior ocular segment of a subject eye. The imaging system includes an optical system for guiding light from the anterior ocular segment irradiated by the slit light, and an imaging element for receiving light guided by the optical system on an imaging surface. The movement mechanism moves the illumination system and the imaging system. The imaging surface, the optical system, and an object surface along the optical axis of the illumination system satisfy the Scheimpflug condition. The imaging system repeatedly captures images in parallel with the movement of the illumination system and the imaging system by the movement mechanism, and thereby acquires a plurality of images of the anterior ocular segment. The three-dimensional-image construction unit constructs a three-dimensional image on the basis of the plurality of images acquired by the imaging system.Le biomicroscope, selon un mode de réalisation représentatif de la présente invention comprend un système d'éclairage, un système d'imagerie, un mécanisme de mouvement, et une unité de construction d'image tridimensionnelle. Le système d'éclairage émet une lumière de fente vers le segment oculaire antérieur de l'œil d'un sujet. Le système d'imagerie comprend un système optique pour guider la lumière à partir du segment oculaire antérieur irradié par la lumière de fente, et un élément d'imagerie pour recevoir la lumière guidée par le système optique sur une surface d'imagerie. Le mécanisme de déplacement déplace le système d'éclairage et le système d'imagerie. La surface d'imagerie, le système optique et une surface d'objet le long de l'axe optique du système d'éclairage satisfont la condition de Scheimpflug. Le système d'imagerie capture de manière rép
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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